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纳米材料的粒度分析是研究和开发纳米材料的重要步骤，其方法主要包括以下几种：
1、透射电子显微镜法（TEM）：通过观测纳米材料在电子显微镜下的形态和大小，可以较为精确地测量纳米颗粒的粒径。
2、原子力显微镜法（AFM）：此方法可以用于观测单个纳米颗粒的形状和大小，尤其适用于研究纳米颗粒的聚集状态。
3、动态光散射法（DLS）：通过分析颗粒对激光的散射程度，可以得到颗粒的大小分布信息，这种方法适用于液体中的纳米颗粒的粒度分析。
4、小角X射线散射法（SAXS）：通过测量散射光的强度与散射角度之间的关系，可以得到纳米颗粒的大小分布信息，此方法适用于研究固体或液体中的纳米材料。
5、激光粒度仪法：通过测量颗粒对激光的衍射程度来测量粒度大小，具有快速、准确的特点。
至于纳米粒度测定仪，它是专门用于测量纳米材料粒度大小的仪器，这种仪器通常基于上述的一种或多种方法设计，如动态光散射激光粒度仪等，其工作原理是通过测量颗粒对光的散射、衍射等现象，经过数据处理得到颗粒的粒径分布信息，纳米粒度测定仪具有测量准确、操作简便、测试速度快等特点，广泛应用于纳米材料的研究和开发中。
对于不同的纳米材料，可能需要采用不同的粒度分析方法，应结合具体材料和实验需求进行选择，各种方法都有其特点和适用范围，应根据实际情况选择最合适的方法，以上内容仅供参考，建议咨询专业的科研人员获取更准确的关于纳米材料粒度分析方法和纳米粒度测定仪的信息。